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イベント情報

【京都⼯芸繊維⼤学】International Symposium on Reliability~電子機器・集積回路の信頼性に関する国際シンポジウム~

京都府

■開催日時

2018.03.19(月)

■会場

京都工芸繊維大学 松ヶ崎キャンパス 60周年記念館

■参加対象

どなたでも

■主催

京都工芸繊維大学 国際課総務係

■イベント概要

京都工芸繊維大学グリーンイノベーションセンター主催、IEEE SSCS Kansai Chapter、IEEE SSCS Japan Chapter、学振165委員会の協賛による国際シンポジウムを開催いたします。
ソフトエラーなどの一時故障、BTIなどの経年劣化など電子機器や集積回路の信頼性に関する5つの講演を実施します。 CiscoのCharles Slayman氏は、元SunMicrosystemsの技術者でソフトエラー測定法の国際標準であるJESD 89Aを89Bに改定するWGのマネージメントを行っている著名な研究者でソフトエラーに関するキーノート講演をお願いしております。キーノートと招待講演者は下記の5名を予定しております。

・開催日時:2018年3月19日(月)13:00~17:50
・開催場所:京都工芸繊維大学 60周年記念館
・キーノート
  Dr. Charles Slayman (Cisco Systems)  
 数ナノメータ時代のセキュリティーと信頼性の相互作用
・招待講演
1. Prof. Chris Kim(ミネソタ大学教授)
 集積回路の劣化を正確に見積もることのできるSilicon Odometerの歴史について
2. Dr. Frank Schlaphof (グローバルファウンドリ)
 SRAMのソフトエラー率の測定法
3. Dr. Souhir Mhira (Dr. Vincent Huardの代理発表) (STマイクロ)
 経年劣化等の長期信頼性関連(予定)
4. Prof. Jinshun Bi (中国科学院微電子研究所)
 フラッシュメモリなどのNVMの信頼性と放射線効果
※講演は英語で行います。

ご参加いただける方は事前登録をお願い致します。
詳細と登録は
http://www-vlsi.es.kit.ac.jp/SERconf/intconf2018/
(http://officepolaris.co.jp/INTCONF/index.htmlにリダイレクトします)
よりお願いします。

■備考

・お問い合わせ先
 京都工芸繊維大学 国際課総務係
 電話:075-724-7176
 e-mail:techleader[at]jim.kit.ac.jp ※[at]を@に変えてください

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